Счетчики




1-я научно-практическая конференция «Производство электроники: современные технологии и оборудование»

Фото с сайта www.sovtest.ru

26 и 27 мая под эгидой ООО «Совтест АТЕ» на территории ФГУП ПО «Старт» (г. Заречный, Пензенская обл.) прошла научно-практическая конференция на тему: «Производство электроники: современные технологии и оборудование».

В рамках данной конференции с докладами выступили представители ООО «Совтест АТЕ». Они рассмотрели вопросы технологий и оборудования для поверхностного монтажа, в т.ч. для монтажа BGA-компонентов, представили технологии и оборудование для микроэлектроники и поведали о сотрудничестве ООО «Совтест АТЕ» с научными и исследовательскими организациями в области технологий для микроэлектроники, рассмотрели современные решения в области тестирования электронной компонентной базы и испытаний изделий электроники; также рассказали про стандарты IPC в области поверхностного монтажа, влагозащиты, контроля и качества отмывки ПП и стандарты в части монтажа BGA-компонентов.

Отдельным пунктом стоит выделить доклад директора по продажам ООО «Совтест АТЕ» по технологиям и оборудованию для изготовления солнечных батарей. Направление фотовольтаики сейчас активно изучается специалистами компании, ищутся решения, подходящие для российской действительности, ведется сотрудничество с ведущими зарубежными научно-исследовательскими организациями (в числе которых институт «Fraunhofer IZM», Мюнхен, Германия) и поставщиками оборудования для производства, тестирования и испытаний эффективных солнечных модулей. 30 июня 2009 г. в Москве пройдет семинар, посвященный фотовольтаике (информацию можно получить на сайте ООО «Совтест АТЕ» и у менеджеров компании).

Специально выступить с докладом на конференцию приехал заместитель генерального директора ОАО РНИИ «Электронстандарт» (г. Санкт-Петербург) Малинин В.Г., который поведал об опыте своего предприятия в области испытаний электронной компонентной базы оборонного назначения с использованием технологий и оборудования, предоставленных ООО «Совтест АТЕ».

Представителем науки на конференции выступил заведующий кафедрой «Микроэлектроника» Московского Государственного Института Электронной Техники (МИЭТ), д.т.н., профессор Тимошенков С.П., рассказавший о технологиях, возможностях проектирования и производстве МЭМС в МИЭТ.

Таким образом, данное мероприятие полностью подтвердило свой статус научно-практической конференции, т.к. собрало на своей площадке представителей трех основных институтов: науки, бизнеса и реального производства.

Информация с сайта www.sovtest.ru.